-
1 метод атомно-силовой микроскопии
метод атомно-силовой микроскопииметад атамна-сілавой мікраскапііРусско-белорусский словарь математических, физических и технических терминов > метод атомно-силовой микроскопии
-
2 метод
методметад, -ду- метод акустический
- метод алгебраический
- метод аналитический
- метод асимптотический
- метод атомно-силовой микроскопии
- метод барьерной ёмкости
- метод безусловной оптимизации
- метод вероятностных расчётов
- метод внутрирезонаторной лазерной спектроскопии
- метод восстановления
- метод выбора
- метод высокочувствительный
- метод вычислительный
- метод газоплазменного напыления
- метод гамма-спектрометрический
- метод горячего прессования
- метод горячей высадки
- метод ёмкостный
- метод жидкостной эпитаксии
- метод зависимых испытаний
- метод золь-гель
- метод зондовый
- метод избирательного травления
- метод измерения
- метод импедансов
- метод импульсной флуорометрии
- метод инструментальный
- метод исследования
- метод итерационный
- метод качественный
- метод квазифункций Грина
- метод кинетической спектроскопии
- метод комбинаторный
- метод комплексный
- метод конечных элементов
- метод конструктивный
- метод контроля
- метод контроля помехоустойчивый
- метод коррекции влияния атмосферы
- метод корреляционного анализа
- метод корреляционной спектроскопии
- метод корреляционный
- метод кратковременного нагрева
- метод лазерного зондирования
- метод лазерной вакуумной литографии
- метод лазерной дифракционной спектроскопии
- метод лазерной эпитаксии
- метод лазерный
- метод линеаризации
- метод люминесцентный
- метод Ляпунова второй
- метод Ляпунова-Красовского
- метод магнитошумовой томоскопии
- метод масштабов
- метод медленного выпаривания растворителя
- метод механических квадратур
- метод микроволновый
- метод моделирования
- метод молекулярной динамики
- метод Монте-Карло
- метод наиболее пригодный
- метод наименьших квадратов
- метод наименьших квадратов двухшаговый
- метод наименьших квадратов трёхшаговый
- метод нанесения полимера стратифицированный
- метод наплавки сжатой дугой
- метод направленного затвердевания
- метод нейтронографии
- метод обоснованный
- метод общий
- метод операторный
- метод описания
- метод определения характеристик
- метод оптико-электронного сканирования
- метод оптический
- метод осаждения импульсных потоков плазмы
- метод отображения
- метод оценки
- метод параметризации
- метод перспективный
- метод пластической деформации
- метод плоских температурных волн
- метод пневмоэкструзии расплава
- метод полуклассический
- метод получения
- метод послойного анализа
- метод построения приближённых решений
- метод предложенный
- метод прецизионный
- метод прогнозирования
- метод программно реализованный
- метод прямой
- метод Х-радиометрии
- метод радиометрический
- метод разработанный
- метод растровой электронной микроскопии
- метод расчёта
- метод расчёта апертурный
- метод расчётный
- метод регистрации
- метод регуляризации
- метод решения
- метод самосогласованного поля Хартри-Фока
- метод синтеза
- метод сканирующей туннельной микроскопии
- метод скоростной
- метод спекания композиций
- метод спектроскопический
- метод сплошного неразрушающего контроля
- метод статистической регуляризации
- метод теоретически обоснованный
- метод термоциклической обработки
- метод токовихревой томоскопии
- метод тонкослойной хроматографии
- метод точных штрафных функций
- метод тройной односторонней диффузии
- метод увеличения стабильности
- метод ультразвукового контроля
- метод упрочнения
- метод фазово-поляризационный
- метод физический
- метод формальный
- метод формирования микроструктур
- метод функции Римана-Грина
- метод цифрового управления
- метод червячной экструзии
- метод численного интегрирования
- метод численного решения
- метод численный
- метод Чохральского
- метод экономичный
- метод экспресс-контроля
- метод экспрессного контроля
- метод экстракционной хроматографии
- метод электродуговой
- метод электродуговой металлизации
- метод электронографии
- метод электроспекания
- метод электрохимического анодирования
- метод электрохимического профилирования
- метод энергоёмкий
- метод эффективныйРусско-белорусский словарь математических, физических и технических терминов > метод
См. также в других словарях:
Сканирующий атомно-силовой микроскоп — Атомно силовой микроскоп Атомно силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM atomic force microscope) сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от дес … Википедия
Сканирующий зондовый микроскоп — Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, англ. SPM Scanning Probe Microscope) класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом … Википедия
Кантилевер — Для улучшения этой статьи желательно?: Найти и оформить в виде сносок ссылки на авторитетные источники, подтверждающие написанное … Википедия
Ближнепольная оптическая микроскопия — (БОМ) оптическая микроскопия, обеспечивающая разрешение лучшее, чем у обычного оптического микроскопа. Повышение разрешения БОМа достигается детектированием рассеяния света от изучаемого объекта на расстояниях меньших, чем длина волны света.… … Википедия
Сканирующий туннельный микроскоп — Схема работы сканирующего туннельного микроскопа Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ … Википедия
Ближнепольный оптический микроскоп — Ближнепольная оптическая микроскопия оптическая микроскопия, основанная на эффекте присутствия в дальней зоне излучения идентифицируемых следов взаимодействия света с микрообъектом, находящимся в ближнем световом поле, то есть на расстоянии много … Википедия
Особенность-ориентированное позиционирование — (ООП, англ. FOP feature oriented positioning)[1][2] способ прецизионного перемещения зонда сканирующего микроскопа по исследуемой поверхности, при котором особенности (объекты) поверхности используются в качестве опорных точек для привязки… … Википедия
Растровый туннельный микроскоп — Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) система образец + игла, к которым приложена разность потенциалов. Электроны из образца туннелируют на иглу, создавая таким образом туннельный ток. Величина этого тока экспоненциально зависит от расстояния… … Википедия
ООСЗМ — Особенность ориентированное сканирование (ООС)[1][2] метод прецизионного измерения нанотопографии поверхности, а также других её свойств и характеристик на сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ), при котором особенности (объекты) поверхности… … Википедия
Объектно-ориентированное сканирование — Особенность ориентированное сканирование (ООС)[1][2] метод прецизионного измерения нанотопографии поверхности, а также других её свойств и характеристик на сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ), при котором особенности (объекты) поверхности… … Википедия
Особенность-ориентированное сканирование — (ООС, англ. FOS – feature oriented scanning)[1][2][3][4] способ прецизионного измерения рельефа поверхности на сканирующем зондовом микроскопе, при котором особенности (объекты) поверхности служат в качестве опорных точек для привязки зонда… … Википедия
